Questo servizio raggruppa due modalità di caratterizzazione dei materiali, che possono essere eseguite insieme oppure separatamente, a seconda delle esigenze dell’utente.
La caratterizzazione morfologica e topografica di materiali può essere eseguita attraverso microscopia a fascio di ioni focalizzati (FIB) o microscopia a forza atomica (AFM)
Nel primo caso l’imaging della la superficie dei campioni si ottiene utilizzando un microscopio a fascio di ioni focalizzati (FIB), che consente di verificare le caratteristiche morfologiche dei campioni in esame su scala micrometrica.
La caratterizzazione mediante microscopio a forza atomica consente anche la quantificazione delle caratteristiche morfologiche superficiali del campione, misurando a scala nanometrica la rugosità superficiale e altre caratteristiche legate alla morfologia di superficie del campione.

Tipologia di campioni analizzabili

  • Materiali e biomateriali di qualsiasi origine di cui si voglia conoscere la morfologia di superficie a scala micro/nano-metrica.

Possibili applicazioni

Ambito biomedicoAltri ambiti
  • Quantificazione delle proprietà morfologiche e di superficie di materiali in ambito biomedicale: impianti, coating polimerici su impianti, gel iniettabili, biomateriali impiantabili, matrici micro/nano-porose, micro/nano-fibre, ecc..
  • Quantificazione delle proprietà morfologiche e di superficie di materiali in ambito industriale: finitura superficiale di tessuti, manufatti, superfici verniciate, nanocompositi, verifica della struttura superficiale di vetri superidrofobici auto-pulenti, ecc..

Il costo dei servizi varia significativamente in base al tipo di supporto richiesto e alla modalità di accesso.